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產(chǎn)品名稱:高精度涂鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品型號(hào):MINITEST 4100
更新時(shí)間:2023-12-01
產(chǎn)品特點(diǎn):MINITEST 4100涂鍍層測(cè)厚儀除了1100,2100,3100的功能外,增加了計(jì)算統(tǒng)計(jì)功能。應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)99。每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值) 99可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)
MINITEST 4100高精度涂鍍層測(cè)厚儀的詳細(xì)資料:
MINITEST 4100高精度涂鍍層測(cè)厚儀
MINITEST 4100涂鍍層測(cè)厚儀除了1100,2100,3100的功能外,增加了計(jì)算統(tǒng)計(jì)功能。
MINITEST 4100涂鍍層測(cè)厚儀用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):
• 鋼鐵基體上的非磁性覆層
• 有色金屬上的絕緣覆層
• 絕緣基體上的有色金屬覆層
MiniTest4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn):
所有型號(hào)均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
MiniTest4100涂層測(cè)厚儀功能:
MINITEST4100存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值) 99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) 500
數(shù)據(jù)總量 10000
MINITEST4100統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能:
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar √
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar √
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk √
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) √
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 √
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 √
其他功能
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) √
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) √
利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) √
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset) √
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 √
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 √
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值 √
設(shè)置極限值 √
公英制轉(zhuǎn)換 √
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別zui大zui小值 √
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) √
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 √
組內(nèi)單值延遲顯示 √
連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值 √
MiniTest4100涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | zui小曲率 | zui小測(cè)量 | zui小基 | 探頭尺寸 | |
磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
兩 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm | φ21x89mm | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm | |
電 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm |
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
MINITEST 2100 EPK涂鍍層測(cè)厚儀探頭圖示
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭, 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度
F05
0~500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F10
0~10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0~20mm,φ40mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0~50mm,φ300mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭,尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N100
0~100mm,200mm
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板
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